McXtrace: a Monte Carlo software package for simulation of X-ray optics, beamlines, and experiments
Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › fagfællebedømt
Originalsprog | Engelsk |
---|---|
Tidsskrift | Journal of Applied Crystallography |
Vol/bind | 46 |
Udgave nummer | Part 3 |
Sider (fra-til) | 679-696 |
Antal sider | 18 |
ISSN | 0021-8898 |
DOI | |
Status | Udgivet - 1 jun. 2013 |
ID: 57847516